BEIS-X230 石墨晶体预衍射X射线荧光分析仪

1. 产品简介

BEIS-X230石墨晶体预衍射X射线荧光分析仪由高压电源、X光管、探测器、放大器、多道分析器、数据处理、记录显示等部分组成。我公司自行开发的石墨晶体预衍射分析仪器，是在普通的能量散X射线荧光的样品和探测器之间精心设计加工了1个石墨晶体衍射器，用以排除样品本身放射性的影响，使其适用于测量乏燃料后处理工艺溶液。可以广泛应用于后处理工艺分析中。

2. 技术参数

Ø分析元素范围：K～U

Ø元素含量范围：0.2～10000mg/L

Ø探  测  器：美国进口的SDD电致冷半导体探测器计数，配合专门的数字脉冲处理技术，能量分辨率优于130eV

Ø能量范围：1～40KeV

Ø光管高压：10KV～50KV

Ø光管电流：0～5mA

Ø浓度测量范围：2～100000μg/mL

Ø光管额定功率：250W

Ø整机能量分辨率：优于130eV

Ø检测时间：120s～500s(时间随样品而调整)

Ø测量物质状态：液体

Ø校正方式：采用标准校准仪器

Ø检  出  限：U：0.25μg/mL，NP：0.3μg/mL，Pu：0.3μg/mL

Ø精  密  度：浓度：10μg/mL的U、NP、Pu测量RSD＜5%（延长测量时间可更低）